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產品中心

PRODUCTS CNTER

當前位置:首頁產品中心半導體材料測試橢偏拉曼AFM納米壓痕測試設備

納米壓痕測試設備

產品簡介

對小體積樣品材料力學性質進行定量化測試的關鍵技術。

產品型號:
更新時間:2026-07-08
廠商性質:生產廠家
訪問量:1663
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Features:

測試參數:彈性模量,硬度,屈服強度,儲存和損耗模量,斷裂韌性,劃痕和磨損性能

Capability :

側向力(劃痕測試模塊)

原子力顯微鏡

有限元分析集成模塊

納米壓痕測試設備 納米壓痕測試設備

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上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。

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